English  |  Mapa stránky  |  Kontakty
 
 

Svetový deň metrológie

14. máj 2018

20. máj je Svetový deň metrológie, pripomínajúci výročie podpísania Metrickej konvencie z roku 1875, ktorá poskytuje základ pre celosvetový jednotný merací systém, o ktorý sa opierajú vedecké objavy a inovácie, priemyselná výroba a medzinárodný obchod, ako aj zlepšenia v oblasti kvality života a ochrany životného prostredia.

Téma pre svetový deň metrológie 2017 je Neustály vývoj Medzinárodnej sústavy jednotiek (SI) (PDF, 9,3 MB). Táto téma bola zvolená, nakoľko sa očakáva, že v novembri 2018 Generálna konferencia pre váhy a miery (CGPM) schváli jednu z najväčších zmien tejto sústavy od jej vzniku. Navrhované zmeny vychádzajú z výsledkov výskumu nových meracích metód principiálne založených na kvantových javoch. Medzinárodná sústava jednotiek (SI) bude založená na súbore definícií spojených s fyzikálnymi zákonmi, pričom bude obohatená o schopnosť prijímať ďalšie zlepšenia v oblasti vedy a techniky s cieľom uspokojiť potreby jej používateľov na mnoho ďalších rokov.

Národné metrologické inštitúcie na celom svete kontinuálne zvyšujú úroveň merania ako vedy, rozvíjaním a overovaním nových meracích metód na akejkoľvek úrovni, ktorá je k tomu potrebná. S cieľom zabezpečiť spoľahlivosť výsledkov meraní na svetovej úrovni sa jednotlivé národné metrologické inštitúcie zúčastňujú na porovnávacích meraniach koordinovaných Medzinárodným úradom pre váhy a miery (BIPM). BIPM tiež zabezpečuje zasadnutia pre štáty, ktoré združuje a na týchto zasadnutiach ich oslovuje s novými výzvami pre oblasť metrológie. Medzinárodná organizácia pre legálnu metrológiu (OIML) vytvára medzinárodné odporúčania, ktorých cieľom je zosúladenie a harmonizácia metrologických požiadaviek na meradlá vo svete.

Svetový deň metrológie je dňom uznania a ocenenia práce ľudí z medzivládnych a národných organizácii v prospech všetkých ľudí počas celého roka.

Ďalšie informácie vrátane príhovoru riaditeľa, poster a zoznam akcií sú dostupné na stránke: www.worldmetrologyday.org.